HANDYSURF E-35B粗糙度仪

Z轴（纵向）：±160μm
X轴（横向）：12.5mm
Y轴（可选方向）：4.0mm
分辨率
Z轴：0.01μm（±20μm范围内），0.08μm（±160μm范围内）
X轴：0.1mm单位可调
支持标准：JIS-2001、JIS-1994、JIS-1982、ISO-1997、ISO-1984、DIN-1990、ASME-1995、CNOMO
基础参数：Ra（算术平均粗糙度）、Rz（最大高度粗糙度）、Rq（均方根粗糙度）等34种参数。
Motif参数：RSm（平均轮廓间隔）、Rk（核心粗糙度深度）、Rpk（峰值高度）等。
波纹度参数：W（波纹度）、Wx（X方向波纹度）、AW（算术平均波纹度）等。

测量精度高和稳定性强是这款产品的核心优点，上市多年，凭借其过硬的产品质量和易上手的测量难度，被各行各业接受、推荐，逐步成为国内表面粗糙度检测的优选产品，支持Z轴、X轴、Y轴等多种检测方式，让您无需多次调整位置即可实现一次性检测，传统表面粗糙度检测仪只能使用常规的检测针，在面对狭窄、深孔、沟槽等环境时无能为力，HANDYSURF E-35B粗糙度仪支持更换细孔、沟槽等专用测量，满足不同环境下的测量需要。

质检部门：可加装于质检部门，作为产品出厂前的最后一道关卡。
材料研发：可为科研小组研究新材料提供表面分析提供帮助。
模具制造：在模具制造时可用于检测表面粗糙度是否达到。